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        高、低溫環境下的介電溫譜及頻譜測量

        日期:2022-12-08 12:12
        瀏覽次數:236
        摘要: 高、低溫環境下的介電溫譜及頻譜測量 高、低溫介電測量系統用于分析寬頻、高、低溫環境條件下被測樣品的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量,同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線,是專業從事材料介電性能、溫度弛豫、電弛豫研究的理想測試工具。用戶通過軟件可以直接得出介電間、頻率、偏壓變化的曲線,高溫介電測量系統是功能材料測試必備電學性能評估設備。系統搭配Labview系統開...

        高、低溫環境下的介電溫譜及頻譜測量





        高、低溫介電測量系統用于分析寬頻、高、低溫環境條件下被測樣品的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量,同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線,是專業從事材料介電性能、溫度弛豫、電弛豫研究的理想測試工具。用戶通過軟件可以直接得出介電間、頻率、偏壓變化的曲線,高溫介電測量系統是功能材料測試必備電學性能評估設備。系統搭配Labview系統開發的hcpro軟件,具備彈性的自定義功能,可進行頻率、溫度、時間、測試項等設置,符合材料測試多樣化測試的需求。


        本系統主要用于材料在不同溫度不同頻率下的電學性能測試,系統包含高、低溫環境、阻抗分析儀、測試夾具,測試軟件于一體,可測試材料的介電常數,介質損耗,阻抗譜Co-Co圖,機電耦合系數等,同時可分析被測樣品隨溫度,頻率,時間變化的曲線,測試治具可以根據產品及測試項目要求選購;,實現了自動完成不同環境下的阻抗、介電參數的測量與分析。另外,還可根據用戶提供的其他LCR品牌或型號完成定制需求。軟件可根據實驗方案設計,通過測量CD值,自動完成介電常數和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時間多維變化的曲線。一次測量,同時輸出,測量效率高、數據豐富多樣。




        京公網安備 11010802025692號

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